一、依據技術及職業教育法第二十六條第一項規定：「技職校 院專業科目或技術科目教師、專業及技術人員或專業及技術教師，每任教滿六年應至與技職校院合作機構或與任教領域有關之產業，進行至少半年以上與專業或技術有關之研習或研究」，辦理教師實務研習課程。

二、本課程旨在提升教師對半導體先進製程與材料檢測技術的 理解與實務應用能力，課程內容深入介紹多項材料分析與 檢測技術，包括原子尖端檢測技術（如APT、AFM）、光譜 分析（FTIR、Raman）、微觀繞射技術（TEM、SEM、XRD、 FIB、Nanoindenter）及表面分析方法（XPS、SIMS、DHEM）等。除了理論講授，課程亦安排分組儀器設備見習，由專業講師實地指導操作，幫助教師建立實作經驗。 最後透過產學交流與課程總結，促進知識整合與應用思 維，為日後教學與研究奠定堅實基礎。

三、報名資格：國內各大專校院及高中職在職教師。

四、課程時間：114年8月11日（一）、8月12日（二），共計2 天，凡符合報名資格且全程參與課程者，將於課程結束後 擇期核發研習時數證明電子檔。

五、人數上限：實體30人。

六、課程地點：財團法人國家實驗研究院台灣半導體研究中心 (新竹市東區展業一路26號)。

七、報名網址：https://forms.gle/8PnspqomNaWpYLWS8

八、報名期限：即日起至8月8日(五)17:00止(提前額滿將提前 截止)。

九、聯絡人：教育部產學連結執行辦公室-國立臺北科技大學賴專員，連絡電話:(02)2771-2171分機6020，電子郵件： lks@mail.ntut.edu.tw

十、檢附114年「半導體AI製程檢測尖端技術教師實務研習課程」課程表及海報。